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Device Performance and Reliability in SOI MOSFET

Duan:Device Performance and Reliability
Autor: Franklin Duan
Verfügbarkeit: Auf Lager.
Artikelnummer: 1647593
ISBN / EAN: 9783659186172

Verfügbarkeit: sofort lieferbar

60,70 €
Inkl. MwSt. , zzgl. Versandkosten

Produktbeschreibung

Zusatzinformation

Autor Verlag LAP Lambert Academic Publishing
ISBN / EAN 9783659186172 Bindung Taschenbuch

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