Parameterextraktion bei Halbleiterbauelementen
Autor: | Peter Baumann |
---|---|
Verfügbarkeit: | Auf Lager. |
Veröffentlicht am: | 25.04.2024 |
Artikelnummer: | 2620252 |
ISBN / EAN: | 9783658438203 |
Produktbeschreibung
Ergänzend zu Vorlesung, zu Rechenübungen und insbesondere zum Laborpraktikum im Lehrfach Elektronik werden Analyseverfahren zur Extraktion von SPICE-Modellparametern ausgewählter Halbleiterbauelemente vorgestellt. Für Bauelemente aus der DEMO-Version des Programms ORCAD-PSPICE wird aufgezeigt, wie man deren statische und dynamische elektrische Modellparameter mit PSPICE-Analysen wieder zurück gewinnen kann. Diese Parameterermittlung wird ausgeführt für Schaltdiode, Kapazitätsdiode, npn-Bipolartransistor, N-Kanal-Sperrschicht-Feldeffekttransistor, CMOS-Array-Transistoren, Operationsverstärker und Optokoppler. In einem neuen Abschnitt werden Streuparameter-Analysen zum bipolaren HF-Transistor vorgenommen. Behandelt wird ferner die Ermittlung der Modellparameter von Sensoren zur Erfassung von Temperatur, Licht, Feuchte, Kraft, Schall, Gaskonzentration und pH-Wert. Das abschließende neue Kapitel widmet sich der Parameterextraktion von multikristallinen, monokristallinen und Dünnschicht-Silizium-Solarzellen.
Zusatzinformation
Autor | Peter Baumann | Verlag | Springer, Berlin |
---|---|---|---|
ISBN / EAN | 9783658438203 | Bindung | Taschenbuch |
Weitere beliebte Produkte
-
Cloud Readiness
SharePoint Kompendium.1 Cloud Readiness <span>Als Taschenbuch gegenüber Hardcover 13,40 €</span>
-
Ernährung älterer Menschen
Küpper,C.:Ernährung älterer Menschen <span>Als Taschenbuch gegenüber Hardcover 20,40 €</span>